2-24 6MV脉冲X射线能注量谱的测量

肖开宇 崔高显 刘浩才 赵林 赵敏智

　　当脉冲式6MV X射线装置用作为近区物理测试 _g 探头刻度的辐射源时,为研究被刻度探头的能量响应和估算由于装置能谱的不稳定而对刻度因子引起的误差,对6MV X射线的能注量谱的测定做了实验。基于X射线透射不同厚度吸收体后实测得的透射系数, 用透射系数数值分析的叠代最小二乘法来解谱。在实验中,设计了一个准直系统以形成窄束的几何条件; 测量透射系数的探测器是以LiF(Mg,Ti) - M型TLD为空腔辐射敏感材料、以聚四氟乙烯为室壁的固体电离室。

　　在连续脉冲式6MV X射线装置上所做的实验测定中，采用了聚四氟乙烯和铅两种吸收体或聚四氟乙烯一种吸收体，对由测得的透射系数绘制出的吸收曲线作平滑处理后，用逐层剥离方法推算经一定厚度的吸收体后的X射线有效能量，为合理地取舍用于叠代计算的透射系数值提供依据，从而得到连续脉冲式6MV X射线剂量学上有意义的能注量谱。

　　单脉冲式6MV X射线实验表明, 选择高Z(或较高Z)和低Z两种材料为组合吸收体是合适的, 这可以避免能谱的叠代计算结果不合理地一味向低能方向或高能方向偏移的趋势。较高Z的吸收体材料选铁比铅更为合理。对于实验, 要对源项进行屏蔽, 留出一定截面积的束流并通过准直系统, 以达构造窄束几何条件和提高透射系数测量信噪比的目的。要通过实验选定准直系统轴线和装置最佳取向, 这是实验的关键环节。

　　实验结果表明, 由于装置爆发的每一次脉冲其激发电压和脉冲束流的较大的涨落使透射系数数值分析的叠代最小二乘法这一解谱方法存在困难, 但是只要爆发的脉冲数是足够的多, 并对每发脉冲的输出用监督电离室来作相对测定, 就可以把输出相近的那些脉冲所对应的透射系数合在一组, 对不同组的透射系数分别进行叠代计算, 即可得出能反映闪光-Ⅰ装置谱的波动情况的几组能注量谱。