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2-2 软X光学实验平台研究易荣清 杨国红 刘慎业 孙可煦利用北京同步辐射 X光源对用于ICF研究的软X光探测系统进行了实验标定。2002年在X光光源性能的改善、XRD探测器和平面镜的标定方法研究方面取得了较大的进展。
改善X光光源性能,在新的标定装置上,利用X光CCD系统,将主光路调到测量光路上,然后利用软X光CCD系统测量光源的光斑,通过数据处理,可以得到光源的光斑的大小、均匀性和光强分布。再利用软X光CCD系统配透射光栅可以测量光源的单色性和光源的高次谐波。通过数据处理,可知光源的单色性和高次谐波的情况。 为提高 XRD探测器标定精度,首先,研究了探测器偏压对探测器灵敏度的影响,如图1所示。从实验结果可以看出,探测器的输出在10V时就基本达到饱和。对于同步辐射标定,偏压只需选在50V,过去使用1kV的偏压会造成暗电流高,信噪比低,容易损坏弱电流计。 其次,研究了探测器偏压对探测器暗电流的影响,如图2所示。实验结果表明,探测器偏压对探测器暗电流几乎没有影响。同时,还进行了XRD探测器暗电流随时间变化的关系,说明暗电流随时间基本没有变化,而电缆连接是否很好,电缆头是否干净,空气振动和周围空气的湿度对探测器暗电流有一定影响。 再次,在实验中,利用新的标定装置,如图3所示,光源的光斑为f 4mm,标准探测器的灵敏面为10mm´10mm,XRD探测器的灵敏面为f 10mm,标准探测器和XRD探测器之间的距离为10cm。所以,标准探测器测到的光强和XRD探测器接受的光强完全相等。此外,还对探测器的信噪比进行了研究,给出了探测器输出信号和光子能量的关系,从实验结果看出,不同能段探测器的信噪比不一样,在低能段中,探测器信噪比达到3个量级,在中能段中,信噪比只有几倍,在高能段中,信噪比大约有两个量级。所以,探测器的标定结果,在低能段和高能段中可信度较高,而在中能段中可信度较差。最后,进行了 XRD探测器灵敏度的标定,并与美国LLNL的实验结果进行了比较,对比结果如图4所示。
在平面镜的标定方法上,考虑到影响平面镜反射率的标定精度的因素有许多,主要通过角度基准、角度的转动精度来研究平面镜反射率的精密标定。在北京同步辐射源的 3W1B束线上,用上述实验方法,标定了Au平面镜的反射率,并且与理论计算结果进行比较,结果如图5所示。 根据实验条件和实验方法,可给出平面镜反射率标定的不确定度。在2° 时,低能段50~300eV的光子能量不确定度为1%,角度不确定度为4%,反射率不确定度为5%;高能段0.6~1.5keV的光子能量不确定度为5%,角度不确定度为2%,反射率不确定度为5.5%。实验结果与过去的结果比较,精度是国内目前最高的。 |