239Pu的裂变截面在10keV以上变化较小，在10keV～5MeV之间只变化6%。只要探测器周围不含慢化材料，其裂变谱中子场裂变平均截面基本上是一个常数，在谱变化相当大的情况下（²³⁵U裂变谱、²³⁹Pu裂变谱、快中子临界装置中子场等），平均截面变化在±3%以内。因此，²³⁹Pu裂变电离室常用作裂变谱中子的平响应探测器。然而其热中子裂变截面很大（744.0b，1b=10^-24cm²），在共振区有复杂的共振峰等，在慢化物存在于探测器周围的情况下，热中子和共振区中子份额增加，测量的快中子注量比实际偏高。

　　根据Au和In两个反应的反应率，各群中子的平均截面，快中子注量，再结合中子能谱的测量结果（10keV以下的中子约为总中子的1.1%），可以得到热中子、共振中子和快中子的份额和对²³⁹Pu的裂变反应率的贡献，见表1。

表 1 中子能谱与对²³⁹Pu裂变反应率的贡献

　　为了减小低能中子对²³⁹Pu裂变室测量快中子注量的影响，采用¹⁰B套屏蔽低能中子。²³⁹Pu裂变截面受¹⁰B套的影响采用有效截面来描述。计算表明在屏蔽后快中子的有效截面变化较小，而热中子和共振区中子基本上全部被吸收。从不同的屏蔽厚度计算结果还可以看出，在¹⁰B质量厚度为1.1g/cm²时，²³⁹Pu裂变室可以作为快中子的平响应探测器。采用ENDF/B-VI库和中子能谱测量结果计算CFBR-II堆泄漏中子场中10keV以上的平均截面和平均有效截面，没有任何屏蔽的平均截面为1.66b，质量厚度为1.1g/cm² 的¹⁰B套屏蔽后的有效截面为1.58b，质量厚度为2g/cm²的¹⁰B套屏蔽后的有效截面为1.51b。

　　快中子注量绝对测量采用²³⁹Pu裂变室加¹⁰B套，假设忽略10keV以上中子能谱分布对裂变反应率的影响，用计算的平均截面`s<sub>eff</sub>代入，快中子绝对注量率A<sub>f</sub>=N`s_effjE>10keV，A_f为裂变反应率，s^-1；N为³⁹Pu原子核数；` s_eff为²³⁹Pu(n,f )反应平均有效截面，b；j _E>10keV 为快中子绝对注量率，cm^-2× s^-1。

　　由于¹⁰B套太大，对中子场的影响较大，定位不准确等，因此在CFBR-II堆泄漏中子场中进行快中子注量测量时，如果在探测器周围没有慢化体，一般采用带Cd套的²³⁹Pu裂变室测量中子注量。测量的裂变率A_f乘以修正因子为0.68，有效截面取1.51b，得到快中子注量。也可采用S活化片进行中子注量的监测。在探测器周围有慢化体存在时，尽可能采用加¹⁰B测量快中子注量，有效截面取1.51b，不应采用²³⁹Pu裂变室加Cd套的办法测量中子注量，如果采用S活化片监测中子注量，应乘以一个修正因子。