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太赫兹全金属光栅工艺中光刻胶内应力

卢怡如 张称 阮久福 杨军 邓光晟 吕国强

卢怡如, 张称, 阮久福, 等. 太赫兹全金属光栅工艺中光刻胶内应力[J]. 强激光与粒子束, 2015, 27: 113101. doi: 10.11884/HPLPB201527.113101
引用本文: 卢怡如, 张称, 阮久福, 等. 太赫兹全金属光栅工艺中光刻胶内应力[J]. 强激光与粒子束, 2015, 27: 113101. doi: 10.11884/HPLPB201527.113101
Lu Yiru, Zhang Chen, Ruan Jiufu, et al. Internal stress of photoresists for microfabrication of THz full-metal grating[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2015, 27: 113101. doi: 10.11884/HPLPB201527.113101
Citation: Lu Yiru, Zhang Chen, Ruan Jiufu, et al. Internal stress of photoresists for microfabrication of THz full-metal grating[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2015, 27: 113101. doi: 10.11884/HPLPB201527.113101

太赫兹全金属光栅工艺中光刻胶内应力

doi: 10.11884/HPLPB201527.113101
详细信息
    通讯作者:

    阮久福

Internal stress of photoresists for microfabrication of THz full-metal grating

  • 摘要: 建立了光刻工艺中内应力的三维有限元分析模型,采用热-结构耦合分析,研究了胶膜厚度、后烘温度以及降温速率对SU-8胶层中的内应力产生的影响。综合以上因素发现,较胶膜厚度和后烘温度,降温速率对胶膜应力影响最大,降温速率越小,胶膜内应力越小,当降温速率小于6 ℃/h时,进一步降低降温速率对内应力影响不大。根据上述仿真结果进行了全金属光栅的工艺实验,发现与内应力相关的问题得到了有效解决。
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出版历程
  • 收稿日期:  2015-06-08
  • 修回日期:  2015-07-16
  • 刊出日期:  2015-10-27

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