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2.5 keV能点多层膜KB显微镜成像性能

伊圣振 穆宝忠 蒋励 朱京涛 王占山 曹柱荣 董建军

伊圣振, 穆宝忠, 蒋励, 等. 2.5 keV能点多层膜KB显微镜成像性能[J]. 强激光与粒子束, 2012, 24: 1770-1774. doi: 10.3788/HPLPB20122408.1770
引用本文: 伊圣振, 穆宝忠, 蒋励, 等. 2.5 keV能点多层膜KB显微镜成像性能[J]. 强激光与粒子束, 2012, 24: 1770-1774. doi: 10.3788/HPLPB20122408.1770
Yi Shengzhen, Mu Baozhong, Jiang Li, et al. Imaging characteristics of 2.5 keV multilayer Kirkpatrick-Baez microscope[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2012, 24: 1770-1774. doi: 10.3788/HPLPB20122408.1770
Citation: Yi Shengzhen, Mu Baozhong, Jiang Li, et al. Imaging characteristics of 2.5 keV multilayer Kirkpatrick-Baez microscope[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2012, 24: 1770-1774. doi: 10.3788/HPLPB20122408.1770

2.5 keV能点多层膜KB显微镜成像性能

doi: 10.3788/HPLPB20122408.1770
详细信息
    通讯作者:

    穆宝忠

Imaging characteristics of 2.5 keV multilayer Kirkpatrick-Baez microscope

  • 摘要: 研究了Kirkpatrick-Baez(KB)显微镜成像系统的结构设计、元件制备。通过分析掠入射角、放大倍数和反射镜曲率半径对成像系统调制传递函数(MTF)的影响,确定了KB显微镜系统的初始结构参数,实现了2.5 keV能点多层膜KB显微镜的设计、制备以及装调,在神光Ⅱ强激光装置上完成了像质标定实验。结果表明:2.5 keV能点多层膜KB显微镜在100 m视场内观测周期为20 m平面调制靶时的MTF高于0.6,与OMEGA装置同类型KB系统的空间分辨能力相当,明显优于现有的针孔相机和点投影成像技术。该显微镜与条纹相机配合,已成功实现对短扰动波长平面调制靶烧蚀演化行为的动态诊断。
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出版历程
  • 收稿日期:  2011-09-16
  • 刊出日期:  2012-08-15

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