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532 nm脉冲激光辐照CCD实验研究

沈洪斌 沈学举 周冰 毛少娟 姜楠 李刚

沈洪斌, 沈学举, 周冰, 等. 532 nm脉冲激光辐照CCD实验研究[J]. 强激光与粒子束, 2009, 21(10).
引用本文: 沈洪斌, 沈学举, 周冰, 等. 532 nm脉冲激光辐照CCD实验研究[J]. 强激光与粒子束, 2009, 21(10).
shen hongbin, shen xueju, zhou bing, et al. Experimental study of 532 nm pulsed laser irradiating CCD[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2009, 21.
Citation: shen hongbin, shen xueju, zhou bing, et al. Experimental study of 532 nm pulsed laser irradiating CCD[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2009, 21.

532 nm脉冲激光辐照CCD实验研究

Experimental study of 532 nm pulsed laser irradiating CCD

  • 摘要: 采用532 nm,10 ns的脉冲激光对面阵CCD进行辐照实验,对每一阶段的实验现象和电路层面的破坏机理进行了深入分析,根据实验现象,把脉冲激光对CCD的硬破坏分为3个阶段:第1阶段在低能量密度激光辐照下,被破坏的CCD局部出现无法恢复的白色盲点,但其它部分仍可正常成像;第2阶段CCD探测器受到激光辐照后,在光斑处的时钟线方向出现白色竖直亮线,亮线处无法正常成像且激光辐照撤去后无法恢复;第3阶段受高能量密度激光辐照后,CCD完全失效,无法恢复成像。针对CCD的饱和及恢复阶段,利用Matlab编码对分辨力靶板的成像数据进行处理,分析了激光辐照CCD对饱和像元数和对比度的影响。结果表明:当CCD受到激光辐照时,饱和像元数迅速增多,图像对比度迅速下降为零,激光脉冲消失后,整个CCD成像亮度下降,饱和像元数迅速下降为零,经过一段时间后CCD又恢复至线性工作状态,激光的能量密度越高,CCD恢复所需的时间就越长。研究还发现:当恢复时间超过0.6 s,CCD出现不可恢复的白色条带,严重影响成像质量。
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出版历程
  • 刊出日期:  2009-10-15

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