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取样光栅镀膜减反技术研究

刘全 吴建宏

刘全, 吴建宏. 取样光栅镀膜减反技术研究[J]. 强激光与粒子束, 2007, 19(01).
引用本文: 刘全, 吴建宏. 取样光栅镀膜减反技术研究[J]. 强激光与粒子束, 2007, 19(01).
liu quan, wu jian-hong. Anti-reflection technology for beam sampling grating[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2007, 19.
Citation: liu quan, wu jian-hong. Anti-reflection technology for beam sampling grating[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2007, 19.

取样光栅镀膜减反技术研究

Anti-reflection technology for beam sampling grating

  • 摘要: 根据惯性约束聚变系统技术要求,提出了镀膜减反方案,以解决现有光栅由于元件表面反射影响零级透过率的问题。使用严格耦合波理论分析了镀sol-gel减反膜的取样光栅特性,详细地分析了仿形膜和平面膜的减反情况和取样效率的变化。结果发现,镀平面膜是一种可行的技术方案,光栅表面反射几乎完全消除,表明可以通过取样光栅镀膜减反来达到提高透射率的目的;裸光栅的深度为12 nm时,平面减反膜厚为60 nm,即光学厚度为等效1/4波长:72 nm。此时的透射率为99.8%,取样效率为0.241‰。
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  • 刊出日期:  2007-01-15

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