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采用EPR谱和TEM对YSZ单晶辐照损伤的研究

祖小涛 封向东 雷雨 朱莎 王鲁闵

祖小涛, 封向东, 雷雨, 等. 采用EPR谱和TEM对YSZ单晶辐照损伤的研究[J]. 强激光与粒子束, 2005, 17(12).
引用本文: 祖小涛, 封向东, 雷雨, 等. 采用EPR谱和TEM对YSZ单晶辐照损伤的研究[J]. 强激光与粒子束, 2005, 17(12).
zu xiao-tao, feng xiang-dong, lei yu, et al. Study on irradiation damage of yttria-stabilized zirconia single crystals using EPR and TEM[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2005, 17.
Citation: zu xiao-tao, feng xiang-dong, lei yu, et al. Study on irradiation damage of yttria-stabilized zirconia single crystals using EPR and TEM[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2005, 17.

采用EPR谱和TEM对YSZ单晶辐照损伤的研究

Study on irradiation damage of yttria-stabilized zirconia single crystals using EPR and TEM

  • 摘要: 利用电子顺磁共振(EPR)谱和透射电子显微镜(TEM)研究了YSZ单晶的辐照效应。200 keV的Xe和400 keV的Cs离子注入[111]取向的YSZ单晶中,注量均为5×1016 cm-2。EPR结果表明辐照产生了共振吸收位置g‖=1.989 和 g⊥=1.869、对称轴为[111]的六配位Zr3+顺磁缺陷。Cs辐照产生了比Xe 离子辐照多约150倍的六配位Zr3+顺磁缺陷。两种样品的剖面电子显微分析表明没有发现非晶化转变,但是Cs离子辐照的样品在损伤集中区域产生了密度较高的缺陷。因此,EPR谱和电子显微观察均说明在相同离位损伤(约160 dpa)的情况下,Cs离子辐照比Xe 离子辐照产生了更多的缺陷。造成这一现象的原因是Cs离子是化学活性的而Xe 离子却是惰性的。
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出版历程
  • 刊出日期:  2005-12-15

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