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体视显微镜与CCD成像系统在高阶贝塞尔光束光斑测量中的应用

陈姿言 吴逢铁 何西 沈栋辉

陈姿言, 吴逢铁, 何西, 等. 体视显微镜与CCD成像系统在高阶贝塞尔光束光斑测量中的应用[J]. 强激光与粒子束, 2014, 26: 111006. doi: 10.11884/HPLPB201426.111006
引用本文: 陈姿言, 吴逢铁, 何西, 等. 体视显微镜与CCD成像系统在高阶贝塞尔光束光斑测量中的应用[J]. 强激光与粒子束, 2014, 26: 111006. doi: 10.11884/HPLPB201426.111006
Chen Ziyan, Wu Fengtie, He Xi, et al. Application of stereomicroscope and CCD imaging system to spot size measurement of high-order Bessel beam[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2014, 26: 111006. doi: 10.11884/HPLPB201426.111006
Citation: Chen Ziyan, Wu Fengtie, He Xi, et al. Application of stereomicroscope and CCD imaging system to spot size measurement of high-order Bessel beam[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2014, 26: 111006. doi: 10.11884/HPLPB201426.111006

体视显微镜与CCD成像系统在高阶贝塞尔光束光斑测量中的应用

doi: 10.11884/HPLPB201426.111006
详细信息
    通讯作者:

    吴逢铁

Application of stereomicroscope and CCD imaging system to spot size measurement of high-order Bessel beam

  • 摘要: 主要对光学测量仪器体视显微镜与CCD成像系统在高阶贝塞尔光束光斑测量中的应用进行分析,通过以非相干LED绿光经过螺旋相位板和轴棱锥产生的高阶贝塞尔(Bessel)光束为例,模拟出沿轴向不同距离处的截面光强分布图,并与相应的实验参数(如:最大无衍射距离、中心暗斑直径等)进行比较。实验结果表明,体视显微镜与CCD成像系统的测量结果相吻合,但是体视显微镜测量误差较大会影响测量结果的准确度。
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出版历程
  • 收稿日期:  2014-05-30
  • 修回日期:  2014-08-12
  • 刊出日期:  2014-11-04

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