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基于AFM的固液界面表面电荷密度测量方法

景大雷 李大勇 赵学增

景大雷, 李大勇, 赵学增. 基于AFM的固液界面表面电荷密度测量方法[J]. 强激光与粒子束, 2015, 27: 024151. doi: 10.11884/HPLPB201527.024151
引用本文: 景大雷, 李大勇, 赵学增. 基于AFM的固液界面表面电荷密度测量方法[J]. 强激光与粒子束, 2015, 27: 024151. doi: 10.11884/HPLPB201527.024151
Jing Dalei, Li Dayong, Zhao Xuezeng. Colloidal probe AFM method to measure surface charge density at solid-liquid interfaces[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2015, 27: 024151. doi: 10.11884/HPLPB201527.024151
Citation: Jing Dalei, Li Dayong, Zhao Xuezeng. Colloidal probe AFM method to measure surface charge density at solid-liquid interfaces[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2015, 27: 024151. doi: 10.11884/HPLPB201527.024151

基于AFM的固液界面表面电荷密度测量方法

doi: 10.11884/HPLPB201527.024151
详细信息
    通讯作者:

    赵学增

Colloidal probe AFM method to measure surface charge density at solid-liquid interfaces

  • 摘要: 固液界面的表面电荷会影响微纳流体系统的流体阻力,因此如何测量固液界面的表面电荷密度以及分析表面电荷的产生机理对于研究表面电荷对流体阻力的影响具有较大的意义。提出了一种基于接触式AFM的固液界面表面电荷密度测量方法。基于该方法测量了浸在去离子水和0.01 mol/L的NaCl溶液中的高硼硅玻璃和二氧化硅样本的表面电荷密度,并研究了溶液pH值对表面电荷的影响。研究结果表明高硼硅玻璃和二氧化硅由于表面硅烷基的电离带负电。溶液pH值和离子浓度的增加都会增加浸在去离子水和0.01 mol/L的NaCl溶液中高硼硅玻璃和二氧化硅的表面电荷密度的绝对值。
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出版历程
  • 收稿日期:  2014-09-23
  • 修回日期:  2014-10-30
  • 刊出日期:  2015-01-27

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