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He-O2高气压下电容耦合辉光放电数值分析

彭庆军 司马文霞 杨 庆 袁 涛 刘兴华 邹立峰 李玉森

彭庆军, 司马文霞, 杨 庆, 等. He-O2高气压下电容耦合辉光放电数值分析[J]. 强激光与粒子束, 2012, 24: 2841-2847. doi: 10.3788/HPLPB20122412.2841
引用本文: 彭庆军, 司马文霞, 杨 庆, 等. He-O2高气压下电容耦合辉光放电数值分析[J]. 强激光与粒子束, 2012, 24: 2841-2847. doi: 10.3788/HPLPB20122412.2841
Peng Qingjun, Sima Wenxia, Yang Qing, et al. Simulation of capacitively coupled high-pressure glow discharge in He-O2[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2012, 24: 2841-2847. doi: 10.3788/HPLPB20122412.2841
Citation: Peng Qingjun, Sima Wenxia, Yang Qing, et al. Simulation of capacitively coupled high-pressure glow discharge in He-O2[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2012, 24: 2841-2847. doi: 10.3788/HPLPB20122412.2841

He-O2高气压下电容耦合辉光放电数值分析

doi: 10.3788/HPLPB20122412.2841
详细信息
    通讯作者:

    司马文霞

Simulation of capacitively coupled high-pressure glow discharge in He-O2

  • 摘要: 采用一维的等离子体流体力学模型研究了氦气-氧气高气压下电容耦合放电过程。分别给出了间隙为1.6,2.4和3.2 mm时外加电压的有效值与放电电流有效值特征曲线,并与已有的实验数据作对比,结果表明计算得到的电压-电流特征曲线与实验数据符合得很好。研究发现:氦气-氧气高气压下电容耦合放电过程中荷质比较大的离子在鞘层中的分布随着外电场的变化而变化,而荷质比较小的粒子在整个放电区域基本不随外电场变化而变化;同时杂质形成正负离子在主等离子体区域两端出现了峰值。
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出版历程
  • 收稿日期:  2012-02-21
  • 修回日期:  2012-07-10
  • 刊出日期:  2012-11-05

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