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任意球面元件的超高反射率测量方法

易亨瑜 彭勇 黄祖鑫 陈兴无

易亨瑜, 彭勇, 黄祖鑫, 等. 任意球面元件的超高反射率测量方法[J]. 强激光与粒子束, 2013, 25: 287-291. doi: 10.3788/HPLPB20132502.0287
引用本文: 易亨瑜, 彭勇, 黄祖鑫, 等. 任意球面元件的超高反射率测量方法[J]. 强激光与粒子束, 2013, 25: 287-291. doi: 10.3788/HPLPB20132502.0287
Yi Hengyu, Peng Yong, Huang Zuxin, et al. Super-high reflectivity measurement of arbitrary spheric optical element[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2013, 25: 287-291. doi: 10.3788/HPLPB20132502.0287
Citation: Yi Hengyu, Peng Yong, Huang Zuxin, et al. Super-high reflectivity measurement of arbitrary spheric optical element[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2013, 25: 287-291. doi: 10.3788/HPLPB20132502.0287

任意球面元件的超高反射率测量方法

doi: 10.3788/HPLPB20132502.0287
详细信息
    通讯作者:

    易亨瑜

Super-high reflectivity measurement of arbitrary spheric optical element

  • 摘要: 为了实现任意球面元件的超高反射率测量,提出直腔和折叠腔两种光腔结构,以实现0,10,15和30等不同角度下球面元件的超高反射率测量。详细分析了这两种测量方式,根据光束传输变换公式,推导了任意球面元件在测量中引入的衰荡光腔物理腔长的变化,得到了实验测量中腔长调节指导。并根据光腔衰荡法原理,推导了球面元件在超高反射率测量中的通用数学表达式,对测量公式进行了讨论,分析结果扩展了光腔衰荡法在元件超高反射率测量的使用范围。
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出版历程
  • 收稿日期:  2012-05-29
  • 修回日期:  2012-08-23
  • 刊出日期:  2013-02-10

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