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325 MHz超导腔输入耦合器镀铜层厚度的实验研究

陈旭 谷魁祥 彭应华 马强 黄彤明 林海英 潘卫民

陈旭, 谷魁祥, 彭应华, 马强, 黄彤明, 林海英, 潘卫民, . 325 MHz超导腔输入耦合器镀铜层厚度的实验研究[J]. 强激光与粒子束, 2014, 26: 125103. doi: 10.11884/HPLPB201426.125103
引用本文: 陈旭, 谷魁祥, 彭应华, 马强, 黄彤明, 林海英, 潘卫民, . 325 MHz超导腔输入耦合器镀铜层厚度的实验研究[J]. 强激光与粒子束, 2014, 26: 125103. doi: 10.11884/HPLPB201426.125103
Chen Xu, Gu Kuixiang, Peng Yinghua, Ma Qiang, Huang Tongming, Lin Haiying, Pan Weimin, . Copper layer thickness for 325 MHz superconducting cavity input couplers[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2014, 26: 125103. doi: 10.11884/HPLPB201426.125103
Citation: Chen Xu, Gu Kuixiang, Peng Yinghua, Ma Qiang, Huang Tongming, Lin Haiying, Pan Weimin, . Copper layer thickness for 325 MHz superconducting cavity input couplers[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2014, 26: 125103. doi: 10.11884/HPLPB201426.125103

325 MHz超导腔输入耦合器镀铜层厚度的实验研究

doi: 10.11884/HPLPB201426.125103
详细信息
    通讯作者: 陈旭

Copper layer thickness for 325 MHz superconducting cavity input couplers

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出版历程
  • 收稿日期:  2014-06-03
  • 修回日期:  2014-10-22
  • 刊出日期:  2014-12-16

325 MHz超导腔输入耦合器镀铜层厚度的实验研究

    通讯作者: 陈旭, chenx@mail.ihep.ac.cn
  • 1. 中国科学院大学 物理学院, 北京 1 00049;
  • 2. 中国科学院 高能物理研究所 加速器中心, 北京 1 00049

摘要: 通过对工作在325 MHz、镀铜厚度分别为10,20,30 m的耦合器外导体进行高功率测试,研究了超导腔输入耦合器外导体内壁镀铜层厚度与漏热的依赖关系,目的在于寻找最优化的铜层厚度来降低超导腔输入耦合器的低温漏热。实验结果表明,20 m铜层的耦合器具有较低的动态损耗。综合考虑静态损耗与动态损耗,则20 m铜层厚度为最优化的铜层厚度。

English Abstract

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