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软X射线连续谱Z箍缩铝等离子体电子温度诊断

李沫 邱孟通 吴坚 王亮平 吴刚 韩娟娟 郭宁 雷天时

李沫, 邱孟通, 吴坚, 等. 软X射线连续谱Z箍缩铝等离子体电子温度诊断[J]. 强激光与粒子束, 2012, 24: 2493-2496. doi: 10.3788/HPLPB20122410.2493
引用本文: 李沫, 邱孟通, 吴坚, 等. 软X射线连续谱Z箍缩铝等离子体电子温度诊断[J]. 强激光与粒子束, 2012, 24: 2493-2496. doi: 10.3788/HPLPB20122410.2493
Li Mo, Qiu Mengtong, Wu Jian, et al. Plasma electron temperature diagnosis in aluminum wire array Z-pinches based on soft X-ray continuum[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2012, 24: 2493-2496. doi: 10.3788/HPLPB20122410.2493
Citation: Li Mo, Qiu Mengtong, Wu Jian, et al. Plasma electron temperature diagnosis in aluminum wire array Z-pinches based on soft X-ray continuum[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2012, 24: 2493-2496. doi: 10.3788/HPLPB20122410.2493

软X射线连续谱Z箍缩铝等离子体电子温度诊断

doi: 10.3788/HPLPB20122410.2493
详细信息
    通讯作者:

    李沫

Plasma electron temperature diagnosis in aluminum wire array Z-pinches based on soft X-ray continuum

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出版历程
  • 收稿日期:  2011-12-19
  • 修回日期:  2012-03-26
  • 刊出日期:  2012-10-15

软X射线连续谱Z箍缩铝等离子体电子温度诊断

doi: 10.3788/HPLPB20122410.2493
    通讯作者: 李沫

摘要: 针对强光一号加速器(约1.5 MA,80~100 ns)Z箍缩铝丝阵实验设计和研制了一套弯晶谱仪,采用邻苯二甲酸氢铊(TlAP)晶体对辐射能谱进行色散,用X射线胶片记录连续辐射谱型,谱仪测谱范围为1.8~3.0 keV。以第10084发次平面型铝丝阵负载实验为例,获得了具有轴向分辨的时间积分辐射谱型,对其中某一热斑处的数据进行处理得到了该区域等离子体时间积分电子温度约为520(135%)eV。

English Abstract

李沫, 邱孟通, 吴坚, 等. 软X射线连续谱Z箍缩铝等离子体电子温度诊断[J]. 强激光与粒子束, 2012, 24: 2493-2496. doi: 10.3788/HPLPB20122410.2493
引用本文: 李沫, 邱孟通, 吴坚, 等. 软X射线连续谱Z箍缩铝等离子体电子温度诊断[J]. 强激光与粒子束, 2012, 24: 2493-2496. doi: 10.3788/HPLPB20122410.2493
Li Mo, Qiu Mengtong, Wu Jian, et al. Plasma electron temperature diagnosis in aluminum wire array Z-pinches based on soft X-ray continuum[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2012, 24: 2493-2496. doi: 10.3788/HPLPB20122410.2493
Citation: Li Mo, Qiu Mengtong, Wu Jian, et al. Plasma electron temperature diagnosis in aluminum wire array Z-pinches based on soft X-ray continuum[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2012, 24: 2493-2496. doi: 10.3788/HPLPB20122410.2493

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